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    在最新一期的國際權(quán)威學術(shù)雜志《Neuron》上發(fā)表的一項研究中，哥倫比亞大學醫(yī)學中心的研究人員表明，突變的總數(shù)量和性質(zhì)——而不是任何單一突變的存在，會影響個體罹患精神分裂癥的風險以及嚴重程度。這一發(fā)現(xiàn)對精神分裂癥的早期診斷和治療，具有重要的意義。

    在這項研究中，精神病學教授Maria Karayiorgou博士和生理學、細胞生物物理學教授及神經(jīng)科學教授Joseph Gogos博士及其研究團隊，對231名精神分裂癥患者及其未受影響的父母，進行了外顯子組（人類基因組中編碼蛋白質(zhì)的區(qū)域）測序。根據(jù)這些數(shù)據(jù)，他們表明，精神分裂癥是由跨多個基因的共同損傷引起。

    紐約州精神病學研究所精神病學和醫(yī)學遺傳學部門主任Karayiorgou博士指出：“這項研究有助于明確一個特定的遺傳機制，解釋一些精神分裂癥的遺傳性和臨床表現(xiàn)。從健康父母遺傳得到的受損基因積累，會導致罹患精神分裂癥或更嚴重疾病的更高風險。”

    精神分裂癥患者是一種嚴重的精神疾病，患者會經(jīng)歷幻覺、妄想、冷漠和認知困難。這種疾病比較常見，影響約1%的人，并且，如果一個家族成員患有精神分裂癥，那么其他家庭成員罹患這種疾病的風險就大大增加。以前的研究主要集中在，尋找可能引發(fā)精神分裂癥的單個基因。新的高通量DNA測序技術(shù)為這種疾病帶來一種更整體的分析方法。

    在非遺傳性精神分裂癥的病例中，研究人員比較測序數(shù)據(jù)來尋找遺傳差異，并識別新的功能缺失突變——它們更加罕見，但對普通基因功能具有更嚴重的影響。在不同染色體上的各種基因中，他們都發(fā)現(xiàn)了過多的這種突變。

    利用相同的測序數(shù)據(jù)，研究人員也在探究，一般精神分裂癥患者從父母那里遺傳得到了什么類型的突變。原來，許多是“功能缺失”類型。這些突變也更頻繁地出現(xiàn)在對遺傳突變耐受性低的基因中。

    Karayiorgou博士稱：“這些突變是發(fā)現(xiàn)精神分裂癥相關(guān)基因的重要路標。”

    然后，研究人員更深入地研究測序數(shù)據(jù)，試圖確定精神分裂癥相關(guān)的、被破壞的基因的生物學功能。他們檢驗了一個稱為SETD1A的基因中的兩個關(guān)鍵有害突變，表明該基因很大程度上引發(fā)了這種疾病。

    SETD1A參與一個稱為染色質(zhì)修飾的過程。染色質(zhì)是將DNA包裝成較小體積的分子裝置，以使其能夠進入細胞并調(diào)節(jié)基因如何表達。因此，染色質(zhì)修飾是一種重要的細胞活動。

    這一發(fā)現(xiàn)與越來越多的證據(jù)相符合，表明染色質(zhì)調(diào)節(jié)基因發(fā)生的損傷，是各種精神疾病和神經(jīng)發(fā)育障礙的一個共同特征。通過將此項研究的突變數(shù)據(jù)與精神分裂癥相關(guān)研究的突變數(shù)據(jù)相結(jié)合，作者發(fā)現(xiàn)，對具有破壞性突變的基因，染色質(zhì)調(diào)節(jié)是最常見的描述。

    Gogos博士稱：“這一發(fā)現(xiàn)的臨床意義在于，可以將染色質(zhì)調(diào)節(jié)相關(guān)突變的數(shù)量和嚴重程度作為一種方法，識別處于精神分裂癥和其他神經(jīng)發(fā)育障礙風險的兒童。發(fā)現(xiàn)一種方法來逆轉(zhuǎn)染色質(zhì)修飾的改變和恢復基因的表達，可能是治療這種疾病的有效途徑。”

    在進一步的測序研究中，研究人員希望能夠發(fā)現(xiàn)和描述更多可能在精神分裂癥中發(fā)揮作用的基因，并闡述這些基因的共同生物學功能。